• 独特的智能光谱组合 (DSC) 技术可实现同步径向和垂直信号测量，从而实现最快速的 ICP-OES 分析

  可选的高级阀系统 (AVS) 具有气泡注入控制功能，能够有效缩短样品提升、稳定时间和清洗延时，实现最高的分析精度，进而降低运行成本并提高分析效

• 垂直炬管设计可以测量从高基质样品到挥发性有机溶剂的各种复杂样品固态 RF 系统可提供稳定的等离子体，确保长期的分析稳定

• 通过易于使用且直观的软件设计立即开始分析，软件带有应用特定的小程序，只需极少的培训即可开始运行

• 直观的 ICP Expert 软件和 DSC 技术使方法开发更为便捷流畅

• IntelliQuant 模式使样品中的所有元素一目了然，大大简化了方法开发过程并实现了快速样品筛选

• 5110 提供三种灵活的配置：同步垂直双向观测、垂直双向观测和径向观测

大幅提高分析效率

• 通过使用可选的高级阀系统 (AVS) 6/7，降低每次分析的成本并使分析效率提高一倍
  

• 一次读数测量所有波长
  

• VistaChip II 检测器无需气体吹扫，可快速启动分析工作，预热时间极短且无吹扫气体的消耗

出色的性能

• 使用垂直炬管系统对复杂样品进行准确灵敏的分析，包括挥发性有机溶剂高基质样品
  

• 通过分析过程中精准的气泡注入控制，可选的 高级阀系统能够有效缩短样品提升、稳定时间 和清洗延时，从而实现高精度的分析
  

• 固态 RF 射频发生器系统提供稳定的等离子体， 可获得长期的分析稳定性

减少气体消耗

• 由于分析时间更短，每个样品使用的气体可节省 50%（与其他 ICP 相比）简单易用
  
• 直观的软件和即插即用的硬件简化分析过程， 即使对于没有经验的操作人员亦是如此

同步垂直双向观测工作原理

5110 SVDV ICP-OES 只需一次测量即可获得样品中 所有观测模式的结果。智能光谱组合技术 (DSC) 能够 在一次读数过程中同时获得轴向和径向的等离子体观 测数据。因此，5110 仪器比其他 ICP-OES 仪器的样品测量速度快 55%，节省了 50% 的气体。

使用高级阀系统提高分析效率

AVS 6/7 是 5110 ICP-OES 仪器的可选附件。它具有独特的 6 或 7 通切换阀（第 7 个端口用于内 标校正）和用于在定量环中快速加载样品的高速 正排量泵。精准氩气气泡注入控制缩短了样品提 升延迟并几乎免去了冲洗时间，便于实现高通量样品分析。AVS 可使您的样品通量增加一倍同时减少超过 50% 的氩气消耗量。

测定复杂样品

具有高浓度溶解态固体的样品，例如，通过 ICP-OES 测量地质样品或含有机溶剂的样品往往 十分困难。5110 仪器使用了若干设计概念，旨在减少此类样品相关的问题，包括：

• 使用垂直方向的等离子体炬管，在检测高达 25% TDS 复杂样品时获得稳定准确的测量结果。可获得高样品通量，同时减少清洁时间、 停机时间和对备用炬管的需求

• 先进的固态 RF 发生器电源系统设计，支持可靠、稳定、免维护的等离子体运行，即使棘手样品也是如此

• 提供为有机溶剂、高盐/基质样品和含氢氟酸 (HF) 样品而设计的各种优化炬管和样品引入工具包

简化方法开发

创建新的 ICP 方法是一项艰巨的任务。应该选择哪条发射谱线？应该使用哪种等离子体观测模式？如何克服基质效应？如何获得所需的精度？5110 让您的方法设置变得更轻松。内容包括：

• 同步双向观测模式，无需为运行每个元素选择正确的等离子体模式。仅需选择元素和波长， 仪器即可完成剩余的测量工作

• 简便易用、针对特定应用设计的软件工具，可自动加载预设方法，无需繁琐的方法开发、 对齐，而只需简单的培训，即可快速开展分析操作

• 拟合背景校正和 FACT 谱图解卷积等软件算法 可提供准确、可靠的结果，即使研究复杂基质 时亦是如此

• 在 IntelliQuant 模式下，样品分析过程中可同 时进行额外的全波长扫描。这有助于实现所有 分析物的快速定性与半定量分析，使您能够更 快速地筛查样品。了解样品中的元素性质也可 简化方法开发。您可对用于分析的波长进行回 顾性修改，以便处理超范围结果和光谱干扰

• MultiCal 模式可监测每个元素的两个或多个特 征波长结果，增加不同波长之间的数据比对， 提升数据结果的准确性，并能扩展测量范围